實(shí)驗(yàn)室環(huán)境影響主要分為環(huán)境溫度、濕度和空氣流動三個(gè)方面。對于部分沒有做好溫度補(bǔ)償?shù)拈W點(diǎn)儀，高低溫或環(huán)境溫度劇烈變化會導(dǎo)致電子元件產(chǎn)生溫漂，影響測試結(jié)果；環(huán)境濕度影響空氣的電擊穿特性，從而改變點(diǎn)火能量和閃點(diǎn)；另外，若儀器封閉性不佳，周邊氣流會帶走部分油蒸氣，降低樣品杯上方的蒸氣濃度，導(dǎo)致測試結(jié)果偏大

3 人為操作
不恰當(dāng)?shù)牟僮鞣绞揭矊@著影響閃點(diǎn)測試的準(zhǔn)確性與重復(fù)性。例如，樣品在高溫下保存或取樣過程中可能會引起易揮發(fā)組分的損失，導(dǎo)致閃點(diǎn)測試結(jié)果偏大；另外，裝樣量不準(zhǔn)確影響樣品杯上方空間體積，體積越小，越快到達(dá)CLFL, 測量值偏低，反之則偏高；而對于相同的樣品，若預(yù)期閃點(diǎn)值設(shè)置不同，測試過程中點(diǎn)火與空氣導(dǎo)入次數(shù)不同將導(dǎo)致樣品杯內(nèi)氣體成分的差異，也將影響閃點(diǎn)測試結(jié)果；當(dāng)然，每次實(shí)驗(yàn)后的清洗過程也很重要，進(jìn)行連續(xù)測試時(shí)必須排除前一個(gè)樣品殘留物造成的影響。

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影響閃點(diǎn)的因素